電子設(shè)備與系統(tǒng)不斷增加的復(fù)雜性，更高的數(shù)據(jù)速率，使這些設(shè)備的測試面臨更多挑戰(zhàn)。當(dāng)速率較低時，單路測試即可滿足要求。但是，如果數(shù)據(jù)速率較高，工程師可能會遇到更多的串?dāng)_問題。因此，針對不同干擾源和干擾信號應(yīng)用多路測試就變得十分重要。例如 PCIe® 3 具有高達(dá) 16 個差分 8 Gb/s 通道，還有10 Gb/s PON、40 GbE 和 100 GbE，要求 4 至 10 個 10 Gb/s 通道。在測試設(shè)置中廣泛使用射頻開關(guān)切換會增加信號的額外損耗和反射。工程師現(xiàn)在使用新的 M8030A 多通道 比特誤碼率測試儀，無需再使用這些射頻開關(guān)。

 

14 插槽 AXIe 主機(jī)增強(qiáng)了廣泛使用的 J-BERT M8020A 的能力，支持從 4 通道擴(kuò)展至 10 通道，這意味著主機(jī)能夠同時有效支持最多 8 個 PCIe 通道進(jìn)行 ASIC 測試。其他應(yīng)用包括內(nèi)含多個光網(wǎng)絡(luò)單元（ONU）的多通道無源光網(wǎng)絡(luò)（PON）系統(tǒng)測試。M8070A 軟件新的 3.0 版本集成了眾所周知的 M8070A 用戶界面下的所有模塊，因此能夠確保已有用戶快速掌握。 

 

是德科技副總裁兼數(shù)字與光測試事業(yè)部總經(jīng)理 Jürgen Beck 表示：“是德科技在比特誤碼率測試儀測試領(lǐng)域的專業(yè)知識源于我們長期致力于提供市場領(lǐng)先的高速數(shù)字測試解決方案。通過持續(xù)擴(kuò)充我們的 M8000 系列 BER 測試解決方案，我們支持客戶專注于其業(yè)務(wù)需求，無需花費(fèi)大量時間應(yīng)對最新的測試挑戰(zhàn)。”

 

除了完善的 ParBERT 81250 延遲解決方案，新的 M8030A 多通道比特誤碼率測試儀提供了面向每個通道的集成的抖動注入、8 分接去加重和可調(diào)的碼間干擾（ISI）功能。在分析儀方面，每個通道都擁有時鐘恢復(fù)和 CTLE。高集成度可以幫您節(jié)省占地面積，提高測試結(jié)果的可重復(fù)性。 

 

M8030A 多通道比特誤碼率測試儀可提供兩種機(jī)箱和控制器套件：M8030A-BU1，包括機(jī)箱和一臺 AXIe 嵌入式控制器；以及 M8030A-BU2，可用于從外部 PC 通過 PCI Express® 進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。