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一舉三得:直接用碳化硅器件,可節(jié)能、提高功率轉(zhuǎn)換效率、減少設(shè)計(jì)尺寸
更高的效率無(wú)疑是一個(gè)優(yōu)勢(shì),但是有時(shí)候“更高”的陳述是不準(zhǔn)確的,比如:家庭電子器件散發(fā)“更高”的熱量可以減輕您的中央供暖工作在寒冷氣候中的工作量,也許會(huì)帶來(lái)能量使用和成本方面的整體好處,還可以采用效率相對(duì)低效的鍋爐。如果用“更高”來(lái)描述白熾燈,它可以在您需要溫暖時(shí)成為非常高效的加熱器。
2021-11-30
碳化硅器件
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穩(wěn)壓管的4種應(yīng)用電路
穩(wěn)壓二極管(又叫齊納二極管)它的電路符號(hào)是:此二極管是一種直到臨界反向擊穿電壓前都具有很高電阻的半導(dǎo)體器件。
2021-11-29
穩(wěn)壓管 應(yīng)用電路
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連接SPI接口器件 - 第二部分
單個(gè)時(shí)鐘域SPI實(shí)現(xiàn)的思路與兩個(gè)時(shí)鐘域非常相似。這里為了便于演示沒(méi)有使用PLL。同時(shí),也不需要sync_stage模塊。由于是單個(gè)時(shí)鐘,需要clock_generator來(lái)生成dac_sck所需的時(shí)鐘下降沿條件,dac_sck則用作狀態(tài)機(jī)dac_fsm的觸發(fā)條件。
2021-11-29
SPI接口器件
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連接SPI接口器件 - 第一部分
LEC2 Workbench系列技術(shù)博文主要關(guān)注萊迪思產(chǎn)品的應(yīng)用開(kāi)發(fā)問(wèn)題。這些文章由萊迪思教育能力中心(LEC2)的FPGA設(shè)計(jì)專(zhuān)家撰寫(xiě)。LEC2是專(zhuān)門(mén)針對(duì)萊迪思屢獲殊榮的低功耗FPGA和解決方案集合的全球官方培訓(xùn)服務(wù)供應(yīng)商。
2021-11-29
SPI接口器件
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移動(dòng)設(shè)備的 ESD 設(shè)計(jì)戰(zhàn)略:您的 SEED 工具
我們?cè)诘?1 部分介紹了 ESD 的基本概念以及系統(tǒng)高效 ESD 設(shè)計(jì) (SEED)。本博客將為您介紹 SEED 工具箱中所有必要的部分。第 3 部分將介紹如何將 SEED 方法及建模和模擬一起用于優(yōu)化系統(tǒng)級(jí)手機(jī)設(shè)計(jì)。
2021-11-29
移動(dòng)設(shè)備 ESD 設(shè)計(jì)戰(zhàn)略
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做好準(zhǔn)備:關(guān)于 ESD 和 RF 設(shè)備您需要了解什么
靜電放電 (ESD) 現(xiàn)象從一開(kāi)始就存在。我們第一次接觸 ESD 往往是在孩童時(shí)代,在干燥的冬日觸碰金屬門(mén)把手時(shí),會(huì)有種觸電的感覺(jué)——這就是靜電放電。這種短暫的不適感通常對(duì)人類(lèi)來(lái)說(shuō)不是問(wèn)題,但是即使是少量的 ESD 也有可能會(huì)損毀敏感電路。
2021-11-29
ESD RF設(shè)備
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如何使用數(shù)字信號(hào)控制器構(gòu)建更好的汽車(chē)和電動(dòng)汽車(chē)系統(tǒng)
傳統(tǒng)的汽車(chē)和電動(dòng)汽車(chē)系統(tǒng)都依賴(lài)于無(wú)數(shù)電子設(shè)備的有效運(yùn)行,以實(shí)現(xiàn)便利功能以及關(guān)鍵任務(wù)功能安全功能。雖然提出了各種各樣的要求,但這些不同的應(yīng)用從根本上要求能夠在極端條件下運(yùn)行,同時(shí)提供可靠、高性能的實(shí)時(shí)響應(yīng)。
2021-11-26
數(shù)字信號(hào)控制器 汽車(chē)系統(tǒng) 電動(dòng)汽車(chē)系統(tǒng)
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高壓放大器在交變電場(chǎng)空間電荷測(cè)量研究中的應(yīng)用
交變高壓源為試樣材料提供測(cè)試所需的高壓電場(chǎng)環(huán)境。高壓源有兩種實(shí)現(xiàn)方式,一是直接選用高壓發(fā)生設(shè)備,二是采用高壓放大器,需要信號(hào)發(fā)生器輸入一個(gè)幅值較低的控制信號(hào),放大器將控制信號(hào)放大后輸出。在交變電場(chǎng)空間電荷的測(cè)量中,需要協(xié)調(diào)交變高壓和脈沖源輸出在時(shí)序上的先后關(guān)系,測(cè)量特定相位點(diǎn)...
2021-11-26
高壓放大器 交變電場(chǎng)空間 電荷測(cè)量
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用于優(yōu)化ESD RF前端設(shè)計(jì)的SEED方法(第3部分)
通常,系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員使用反復(fù)試驗(yàn)的方法來(lái)添加 ESD 保護(hù)。那是否存在負(fù)面影響呢??jī)H使用組件級(jí) ESD 規(guī)范不足以實(shí)現(xiàn)穩(wěn)健的系統(tǒng)設(shè)計(jì)。我們的目標(biāo)是預(yù)測(cè)最終手機(jī)設(shè)計(jì)的 ESD 性能,以創(chuàng)建一個(gè)提供 ESD 保護(hù)的萬(wàn)無(wú)一失、一次性過(guò)關(guān)的系統(tǒng)設(shè)計(jì)。
2021-11-26
ESD RF前端設(shè)計(jì) SEED方法
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